1. 使用"滑鼠左鍵"點選"Copy"。
2. 在"Find"欄位中,只有勾選"Vias"、"Clines"。
3. 使用"滑鼠左鍵"框選欲複製的線路與Via。
4. 使用"滑鼠左鍵"點選"步驟3"所框選線路中,其中一條的尾端,當做複製的定位點。
5. 移動滑鼠時可以看到複製的線路跟著游標移動,移動到欲複製相同線路的位置,點選"滑鼠左鍵"貼上線路,如果要繼續貼上就重覆此步驟,如要結束按"F6"。
1. 使用"滑鼠左鍵"點選"Copy"。
2. 在"Find"欄位中,只有勾選"Vias"、"Clines"。
3. 使用"滑鼠左鍵"框選欲複製的線路與Via。
4. 使用"滑鼠左鍵"點選"步驟3"所框選線路中,其中一條的尾端,當做複製的定位點。
5. 移動滑鼠時可以看到複製的線路跟著游標移動,移動到欲複製相同線路的位置,點選"滑鼠左鍵"貼上線路,如果要繼續貼上就重覆此步驟,如要結束按"F6"。
1. 點選"專案名稱" > "Add" > References。
使用 NCLaunch編譯時在操作滑鼠點選要編譯的Verilog檔案與選取Testbench檔案比較花時間,改用MakeFile會比較節省時間。
1. 在Verilog與Testbench檔案的下增加一個MakeFile檔案。
IC設計的流程複雜,使用到的工具眾多,整套採購下來要近百萬至千萬台幣。
IC EDA 使用工具:
1. 邏輯模擬:ModelSim(Mentor Graphics)
*使用Linux的vi編輯器編寫Verilog。
*使用ModelSim軟體的基本功能與操作。
2. 邏輯合成:Design Compiler(Synopsys)
*使用邏輯合成工具Design Compiler的圖形使用者方式與命令(腳本)操作方式。
*編寫邏輯合成約束指令檔,並應用指令檔控制合成過程。
*進行合成結果分析:綜合最壞路徑延時、功耗估計等。
*可測性設計的邏輯合成。
3. 靜態時序分析:Prime Time(Synopsys)
*使用靜態時序分析工具Prime Time的操作方式。
*理解輸入延時、輸出延時、時序弧等概念。
*對邏輯合成後的電路設計進行靜態時序分析,分析關鍵路徑。
4. 版圖合成:SOC Encounter(Cadence)
*瞭解並輸入應用SOC Encounter進行版圖合成的各類庫檔及邏輯合成檔。
*進行版圖規劃設計。
*進行電源網路合成。
*進行自動佈局。
*進行時鐘樹合成。
*進行自動佈線,完成版圖合成。
*版圖驗證:
**將版圖合成的結果導入模擬IC設計工具IC5141。
**應用版圖驗證工具Assura對版圖進行DRC驗證、LVS驗證。
5. 自動測試向量生成:TetraMAX(Synopsys)
*熟悉測試向量合成工具TetraMAX的操作。
*對電路的DFT合成網表構造ATPG模型。
*進行設計規則檢查。
*外部輸入測試圖形的故障類比。
6. 形式驗證:Formality(Synopsys)
*使用形式驗證工具Formality的基本概念與軟體操作流程。
*讀入設計、設置資訊、匹配比較點與驗證。
*結果分析與除錯。
7.
版圖驗證工具:IC5141、Assura (Cadence)
單一字元碼 | 相關物件 | 意義 |
L | Line | 走線 |
P | Pin | 元件腳位 |
V | Via | 貫穿孔 |
K | Keep in/out | 允許區域/禁止區域 |
C | Component | 元件層級 |
E | Electrical Constraint | 電氣約束 |
J | T-Junction | 呈現T形的走線 |
I | Island Form | 被Pin或Via圍成的負片孤銅 |
錯誤碼前置碼 | 相關物件 | 意義 |
W | Wire | 與走線相關的錯誤 |
D | Design | 與整個電路板相關的錯誤 |
M | Soldemask | 與防焊層相關的錯誤 |
錯誤碼後置碼 | 相關物件 | 意義 |
S | Shape/Stub | 與走線層的Shape或分支相關的錯誤 |
N | Not Allowed | 與不允許的設置相關的錯誤 |
W | Width | 與寬度相關的錯誤 |
雙字元錯誤碼 | 相關物件 | 意義 |
BB | Bondpad to Bondpad | Bondpad之間的錯誤 |
BL | Bondpad to Line | Bondpad與Line之間的錯誤 |
BS | Bondpad to Shape | Bondpad與Shape 之間的錯誤 |
CC | Package to Package | Package之間的 Spacing 錯誤 |
CC | Symbol Soldermask to Symbol | Soldermask零件防焊層之間的Spacing 錯誤 |
DF | Differential Pair Length Tolerance | 差動訊號走線的長度誤差過長 |
DF | Differential Pair Primary Max Separation | 差動訊號走線的主要距離太大 |
DF | Differential Pair Secondary Max Separation | 差動訊號走線的次要距離太大 |
DF | Differential Pair Secondary Max Length | 差動訊號走線的次要距離長度過長 |
DI | Design Constraint Negative Plane Island | 負片孤銅的錯誤 |
ED | Propagation-Delay | 走線的長度錯誤 |
ED | Relative-Propagation-Delay | 走線的等長錯誤 |
EL | Max Exposed Length | 走線在外層(TOP&BOTTOM)的長度過長 |
EP | Max Net Parallelism Length-Distance Pair | 已超過Net之間的平行長度 |
ES | Max Stub Length | 走線的分支過長 |
ET | Electrical Topology | 走線連接方式的錯誤 |
EV | Max Via Count | 已超過走線使用的VIA的最大數目 |
EX | Max Crosstalk | 已超過Crosstalk值 |
EX | Max Peak Crosstalk | 已超過Peak Crosstalk值 |
HH | Hold to Hold Spacing | 鑽孔之間的距離太近 |
HW | Diagonal Wire to Hold Spacing | 斜線與鑽孔之間的距離太近 |
HW | Hold to Orthogonal Wire Spacing | 鑽孔與垂直/水平線之間的距離太近 |
IM | Impedance Constraint | 走線的阻抗值錯誤 |
JN | T Junction Not Allowed | 走線呈T形的錯誤 |
KB | Route Keepin to Bondpad | Bondpad在Keepin之外 |
KB | Route keepout to Bondpad | Bondpad在keepout之內 |
KB | Via Keepout to Bondpad | Bondpad在Via Keepout之內 |
KC | Package to Place Keepin Spacing | 元件在Place Keepin之外 |
KC | Package to Place Keepout Spacing | 元件在Place Keepout之內 |
KL | Line to Route Keepin Spacing | 走線在Route Keepin之外 |
KL | Line to Route Keepout Spacing | 走線在Route Keepout之內 |
KS | Shape to Route Keepin Spacing | Shape在Route Keepin之外 |
KS | Shape to Route Keepout Spacing | Shape在Route Keepout之內 |
KV | BBVia to Route Keepin Spacing | BBVia在Route Keepin之外 |
KV | BBVia to Route Keepout Spacing | BBVia在Route Keepout之內 |
KV | BBVia to Via Keepout Spacing | BBVia在Via Keepout之內 |
KV | Test Via to Route Keepin Spacing | Test Via在Route Keepin之外 |
KV | Test Via to Route Keepout Spacing | Test Via在Route Keepout之內 |
KV | Test Via to Via Keepout Spacing | Test Via在Via Keepout之內 |
KV | Through Via to Route Keepin Spacing | Through Via在Route Keepin之外 |
KV | Through Via to Route Keepout Spacing | Through Via在Route Keepout之內 |
KV | Through Via to Via Keepout Spacing | Through Via在Via Keepout之內 |
LB | Min Self Crossing Loopback Length | 無 |
LL | Line to Line Spacing | 走線之間太近 |
LS | Line to Shape Spacing | 走線與Shape 太近 |
LW | Min Line Width | 走線的寬度太細 |
LW | Min Neck Width | 走線變細的寬度太細 |
MA | Soldermask Alignment Error Pad | Soldermask Tolerance太小 |
MC | Pin/Via Soldermask to Symbol Soldermask | Pad與Symbol Soldermask之間的錯誤 |
MM | Pin/Via Soldermask to Pin/Via Soldermask | Pad Soldermask之間的錯誤 |
PB | Pin to Bondpad | Pin與Bondpad之間的錯誤 |
PL | Line to SMD Pin Spacing | 走線與SMD元件腳太近 |
PL | Line to Test Pin Spacing | 走線與Test元件腳太近 |
PL | Line to Through Pin Spacing | 走線與Through元件腳太近 |
PP | SMD Pin to SMD Pin Spacing | SMD元件腳與SMD元件腳太近 |
PP | SMD Pin to Test Pin Spacing | SMD元件腳與Test元件腳太近 |
PP | Test Pin to Test Pin Spacing | Test元件腳與Test元件腳太近 |
PP | Test Pin to Through Pin Spacing | Test元件腳與Through元件腳太近 |
PP | Through Pin to SMD Pin Spacing | Through元件腳與SMD元件腳太近 |
PP | Through Pin to Through Pin Spacing | Through元件腳與Through元件腳太近 |
PS | Shape to SMD Pin Spacing | Shape與SMD元件腳太近 |
PS | Shape to Test Pin Spacing | Shape與Test元件腳太近 |
PS | Through Pin to Shape Spacing | Through元件腳與Shape太近 |
PV | BBVia to SMD Pin Spacing | BBVia與SMD元件腳太近 |
PV | BBVia to Test Pin Spacing | BBVia與Test元件腳太近 |
PV | BBVia to Through Pin Spacing | BBVia 與Through元件腳太近 |
PV | SMD Pin to Test Via Spacing | SMD Pin與Test Via太近 |
PV | SMD Pin to Through Via Spacing | SMD Pin與Through Via太近 |
PV | Test Pin to Test Via Spacing | Test Pin與Test Via太近 |
PV | Test Pin to Through Via Spacing | Test Pin與Through Via太近 |
PV | Test Via to Through Pin Spacing | Test Via與Through Pin太近 |
PV | Through Pin to Through Via Spacing | Through Pin與Through Via太近 |
RC | Package to Hard Room | 元件在其他的Room之內 |
RE | Min Length Route End Segment at 135Degree | 無 |
RE | Min Length Route End Segment at 45/90Degree | 無 |
SB | 135Degree Turn to Adjacent Crossing Distance | 無 |
SB | 90Degree Turn to Adjacent Crossing Distance | 無 |
SL | Min Length Wire Segment | 無 |
SL | Min Length Single Segment Wire | 無 |
SN | Allow on Etch Subclass | 允許在走線層上 |
SO | Segment Orientaion | 無 |
BB | Bondpad to Bondpad | Bondpad之間的錯誤 |
SS | Shape to Shape | Shape之間的錯誤 |
TA | Max Turn Angle | 無 |
VB | Via to Bondpad | Via 與Bondpad之間的錯誤 |
VG | Max BB Via Stagger Distance | 同一段線的BB Via之間的距離太長 |
VG | Min BB Via Gap | BB Via之間太近 |
VG | Min BB Via Stagger Distance | 同一段線的BB Via之間的距離太近 |
VG | Pad/Pad Direct Connect | Pad 在另一個Pad 之上 |
VL | BB Via to Line Spacing | BB Via與走線太近 |
VL | Line to Through Via Spacing | 走線與Through Via太近 |
VL | Line to Test Via Spacing | 走線與Test Via太近 |
VS | BB Via to Shape Spacing | BB Via與Shape太近 |
VS | Shape to Test Via Spacing | Shape 與Test Via太近 |
VS | Shape to Through Via Spacing | Shape與Through Via太近 |
VV | BB Via to BB Via Spacing | BB Via之間太近 |
VV | BB Via to Test Via Spacing | BB Via與Test Via太近 |
VV | BB Via to Through Via Spacing | BB Via與Through Via太近 |
VV | Test Via to Test Via Spacing | Test Via之間太近 |
VV | Test Via to Through Via Spacing | Test Via與Through Via太近 |
VV | Through Via to Through Via Spacing | Through Via之間太近 |
WA | Min Bonding Wire Length | Bonding Wire 長度太短 |
WE | Min End Segment Length | 無 |
WE | Min Length Wire End Segment at 135Degree | 無 |
WE | Min Length Wire End Segment at 45/90Degree | 無 |
WI | Max Bonding Wire Length | Bonding Wire 長度太長 |
WW | Diagonal Wire to Diagonal Wire Spacing | 斜線之間太近 |
WW | Diagonal Wire to Orthogonal Wire Spacing | 斜線與垂直/水平線之間的距離太近 |
WW | Orthogonal Wire to Orthogonal Wire Spacing | 垂直/水平線之間的距離太近 |
WX | Max Number of Crossing | 無 |
WX | Min Distance between Crossing | 無 |
XB | 135 Degree Turn to Adjacent Crossing Distance | 無 |
XB | 90 Degree Turn to Adjacent Crossing Distance | 無 |
XD | Externally Determined Violation | 無 |
XS | Crossing to Adjacent Segment Distances | 無 |